產(chǎn)品列表 / products

功率循環(huán)測試強大專家技術團隊

簡要描述：

功率半導體器件是新能源、軌道交通、電動汽車、工業(yè)應用和家用電器等應用的核心部件。特別是隨著新能源電動汽車的高速發(fā)展，功率半導體器件的市場更是爆發(fā)式的增長，區(qū)別于消費電子市場，車規(guī)級功率半導體器件由于高工作結溫、高功率密度、高開關頻率的特性，和更加惡劣的使用環(huán)境，使得器件的可靠性顯得尤為重要。功率循環(huán)作為功率器件耐久性試驗中的一種，被工業(yè)界和學術界認為是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試。

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更新日期：2025-03-19

價格：

詳細介紹

品牌	廣電計量	加工定制	是
服務區(qū)域	全國	服務周期	常規(guī)3-5天
服務類型	元器件篩選及失效分析	服務資質(zhì)	CMA/CNAS認可
證書報告	中英文電子/紙質(zhì)報告	增值服務	可加急檢測
是否可定制	是	是否有發(fā)票	是

功率循環(huán)測試強大專家技術團隊服務內(nèi)容

廣電計量功率循環(huán)測試通過負載電流加熱和開關斷動作，來模擬器件工作中的結溫波動，通過一定程度的加速老化，以提前暴露器件封裝的薄弱點，評估封裝材料的熱膨脹系數(shù)差異對器件壽命的影響，是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。

功率循環(huán)測試強大專家技術團隊服務范圍

車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設計產(chǎn)品。

檢測標準

● DINENISO/IEC17025：General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列：Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列：Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic Test Methods

● DIN EN 60664系列：Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列：Environmental testing

● JESD22-A119:2009：Low Temperature Storage Life

檢測項目

根據(jù)負載電流加熱的時長不同，功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)（PCsec），分鐘級功率循環(huán)（PCmin），如電力電子模塊AQG324測試標準規(guī)定，不同的負載電流加熱時長，考察的封裝體對象也不同。如下表：

測試項目	加熱時長	考察對象
秒級功率循環(huán)（PCsec）	Ton＜5s	靠近芯片附近的互連層 (chip-near interconnection)
分鐘級功率循環(huán)（PCmin）	Ton＞15s	離芯片互連較遠的互連層 (chip-remote interconnection)

相關資質(zhì)

CNAS

測試周期

常規(guī)5-7個工作日

服務背景

功率循環(huán)測試被稱為考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗，尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展，是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測試不同的是，功率循環(huán)測試原理雖然簡單，但測試技術、測試方法和數(shù)據(jù)處理卻涉及到半導體物理、電磁學、傳熱學、結構力學和信號分析等多學科交叉，處理不當將得到錯誤的結論。

我們的優(yōu)勢

廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗，是SiC領域國內(nèi)的第三方檢測機構之一，為眾多半導體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務。

在功率循環(huán)測試方向，廣電計量引進多臺西門子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A，同時還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺，能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式，并且滿足20℃~125℃的底溫要求，產(chǎn)能充足。

手法，可以協(xié)助廠家進行AQG324的認證檢測；擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專家，可以針對功率半導體進行失效分析及可靠性驗證方案的設計與執(zhí)行。